实验室切割实验室
可靠性实验室
实验室位于成都市郫都区康强二路新显产业园区，占地约1600m²，预计总投资4500万元；主要针对Si基、SiC基、GaN基功率半导体分立器件、功率IC等产品进行性能测试、可靠性测试、失效分析服务。 可靠性测试，将参照AEC、JEDEC、MIL、等国际标准为客户提供实验设计和试验执行服务；主要测试项目包括：环境（高低温）模拟试验、电老炼试验、加速寿命试验、引线拉力测试、振动试验、可焊性、ESD测试等。 失效分析，可为客户提供一套完整的失效分析解决方案，协助客户找出准确的失效点位，包括数据处理、图相分析、报告输出等；主要测试项目包括：电性失效分析、非破坏性分析、DPA分析、样品制备处理、材料分析等。 实验室采用国内外先进的精密仪器设备，致力于功率半导体、电子元器件、材料等领域的技术检测分析。本着以追求“准确、真实、可靠”的质量目标，建立并实施一套完整的质量管理体系，确保向客户出具科学、公正地检测数据，并以建成国家级权威汽车电子测试中心为最终目标。
一 实验室设备及部分产品
高温反偏试验箱（HTRB）
高温栅偏试验箱（HTGB）
高温高湿试验箱（H3TRB）
功率循环试验箱（IOL）
产品中心
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